Testsystem för halvledare för hög effekt

Hitachi Energy erbjuder testsystem för olika miljöer som forskning och utveckling, laboratorier, produktion eller felanalys. Högsta kvalitetssäkring, säker hantering samt service på distans eller på plats garanteras.

Testsystem för halvledare för hög effekt

Hitachi Energy erbjuder statiska och dynamiska produktionstestsystem för de flesta typerna av halvledarenheter. De kan  hanteradies, substrat, submoduler, moduler, skivor och presspack-enheter. System för tester av tillförlitlighet i omvänd polarisering vid hög temperatur, intermittent drifttid eller tester av överspänningsström är också tillgängliga. Extra testdelar inkluderar klämning, kondensatorurladdning, förvärmning, datainsamling och parameterextrahering samt programmerbara  IGBT-   ochtyristor gateenheter.

Parametrar

Hitachi Energy stestsystem täcker upp till 14 kV och 10 kA och använder en justerbar lågstrålningsinduktans. Under testning kan den fastklämda enheten under test (DUT) värmas upp till exakt 185 °C för produktionssystem eller kylas ned till -40 °C i en miljökammare för tekniska system. Klämenheterna kan hantera enheter upp till 240 mm diameter och kan anbringa en klämkraft på upp till 240 kN.

Automation

Våra testsystem är utformade för enkel integrering i automatiserad hanteringsutrustning. Testsystemets programvara är kompatibel med kommersiella styrsystem som MES (tillverkningsexekveringssystem) och CAQ (datorstödd kvalitetssäkring).