Sistemas de prueba para semiconductores de alta potencia

Hitachi Energy ofrece sistemas de prueba para numerosos entornos como investigación y desarrollo, laboratorio, producción o análisis de fallos. Garantizamos máxima calidad, manejo seguro y capacidad de servicio remoto o en las instalaciones.

Sistemas de prueba para semiconductores de alta potencia

Hitachi Energy ofrece sistemas de prueba de producción estática y dinámica para la mayoría de los dispositivos semiconductores de energía. Pueden manejar  moldes, sustratos, submódulos, módulos, obleas y dispositivos de empaque de prensa. También se encuentran disponibles sistemas de pruebas de fiabilidad para polaridad inversa a alta temperatura, vida útil intermitente o sobrecorriente. Las piezas auxiliares del probador incluyen las unidades de sujeción, descarga de capacitores, precalentamiento, adquisición de datos y extracción de parámetros, así como las unidades programables de compuerta de  IGBT  y  tiristor. 

Parámetros

Los sistemas de prueba de Hitachi Energy cubren un rango de hasta 14 kV y 10 kA y utilizan una inductancia baja ajustable. Durante las pruebas, el dispositivo en pruebas (DUT) puede calentarse con precisión hasta 185 °C para los sistemas de producción o enfriarse hasta -40 °C en una cámara ambiental para los sistemas técnicos. Las unidades de sujeción pueden manejar dispositivos de hasta 240 mm de diámetro y pueden aplicar una fuerza de sujeción de hasta 240 kN.

Automatización

Nuestros sistemas de prueba están diseñados para una fácil integración con equipos de manipulación automatizados. El software del sistema de prueba es compatible con sistemas comerciales de control, como sistemas de ejecución de fabricación y garantía de calidad asistida por computadora.